检测宇航级芯片抗辐射效能
中国散裂中子源2018年完成国家验收、投入运行以来，用户迅速增加，目前注册用户已超过6000人，机时供不应求。截至目前，已完成1500余项（含港澳台地区及国外100余项）用户实验课题，涵盖了能源、物理、材料、工程等多个前沿交叉和高科技研发领域，在航空航天关键部件应力检测、锂离子电池、太阳能电池结构、稀土磁性、新型高温超导、功能薄膜、高强合金、芯片单粒子效应等重点领域取得了一批科技创新成果。正是由于散裂中子源丰硕的成果产出和强烈的用户需求，二期工程得以快速立项并启动建设。
“芯片中子单粒子效应”是什么？简单来说，宇宙中存在各种辐射射线，卫星、航天飞机、空间站等人造飞行器的高性能芯片，均可能受太空射线影响而产生“单粒子效应”，引致电子器件性能异常或损毁。所以，抗辐射设计对于宇航级芯片而言必不可少。而在这些领域，散裂中子源都能发挥关键作用。 |
